پاورپوینت ميكروسكوپ نيروي اتمي Atomic Force Microscopy
پاورپوینت ميكروسكوپ نيروي اتمي Atomic Force Microscopy
نوع فایل: power point قابل ویرایش 18 اسلاید قسمتی از اسلایدها: نوسانات سوزن در هنگام روبش نمونه با استفاده از قوانين فيزيك نور ( اپتيك ) رصد مي شود. در دستگاه هاي AFM امروزي يك منبع توليد نور ليزر، يك دسته اشعه نوري را به روي فنر مي تاباند. با لرزش و جابجايي فنر، زاويه تابش ليزر منحرف مي گردد. انحراف صفحه فنر به اندازه زاويه منجر به انحراف اشعه ليزر به اندازه 2 خواهد شد. اشعه ليزر منعكس شده، توسط مقاطع ديودي حساس به نور ردگيري مي شود. بدين ترتيب پستي و بلندي هاي اتمي سطح نمونه قابل رويت خواهد بود . شكل (15 ) تصويري كلي از رديابي در دستگاه AFM را نشان مي دهد. فهرست مطالب و اسلایدها: اصول عملكرد ميكروسكوپ AFM كاربردهاي AFM ...دریافت فایل
برای دانلود بر روی دکمه زیر کلیک فرمایید
دسته : علوم پایه
تگ ها : پاورپوینت, میکروسکوپ نیروی اتمی, Atomic Force Microscopy